• Open Daily: 10am - 10pm
    Alley-side Pickup: 10am - 7pm

    3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
    612-822-4611

Open Daily: 10am - 10pm | Alley-side Pickup: 10am - 7pm
3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
612-822-4611
Kontrola starzenia się tranzystorów mocy

Kontrola starzenia się tranzystorów mocy

Paperback

Technology & Engineering

ISBN10: 6208939488
ISBN13: 9786208939489
Publisher: Wydawnictwo Nasza Wiedza
Published: Jun 17 2025
Pages: 88
Weight: 0.28
Height: 0.21 Width: 6.00 Depth: 9.00
Language: Polish
Niniejsza książka przedstawia doglębne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymalościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkreślają wiarygodne wskaźniki degradacji i otwierają interesujące perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych środowiskach.

Also from

Ben Salah, Tarek

Also in

Technology & Engineering